微技术/微机电系统 (MEMS)
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桑迪亚发布了一套用于 MEMS 器件的“可靠性设计规则”,旨在避免早期 MEMS 器件测试中遇到的失效模式。最常见的失效机制是摩擦表面的磨损。 [1]
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- ↑ Danelle M. Tanner 等人。 "MEMS Reliability: Infrastructure, Test Structures, Experiments, and Failure Modes". Sandia. 2000.