纳米技术/其他方法
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点投影显微镜是一种场发射显微镜[1]，由三个部分组成：电子源、成像对象和观察屏[2]。
LEED 是一种用于成像表面的技术，主要有两种使用方法：定性方法和定量方法。定性方法测量相对大小和几何性质，而定量方法通过观察衍射束来确定原子位置。
RHEED 与 LEED 相似，但使用更高的能量，并且电子以接近掠射入射的角度照射到表面。这样，高能电子只穿透表面的几个原子层。
X 射线光谱学 指的是一组技术，包括但不限于 X 射线吸收光谱学 和 X 射线光电子能谱学.
俄歇电子能谱学 是一种利用俄歇过程分析样品表面层的技术[3]。
- 核磁共振 (NMR) - 在磁场中，分子核的自旋将发生进动，在强场 (数特斯拉) 下，进动频率将处于射频范围内，可以通过接收射频天线和放大器检测到。单个核的进动频率会略有不同，具体取决于其周围分子的电子结构，因此检测到样品中射频进动频率的频谱将提供该样品中分子类型的指纹。
- 核四极共振 是一种相关的技术，它基于分子的内部电场导致核磁矩能级分裂。通过射频 (如 NMR) 检测到能级分裂。它主要用于实验性爆炸物检测。
电子自旋共振 (ESR) 测量 微波频率 的 顺磁性 离子或分子[4] 。
穆斯堡尔谱学 检测原子核与周围环境之间的超精细相互作用。原子必须是固体基质的一部分，以减少伽马射线发射或吸收的反冲效应[5]。
热辐射的红外波长远大于 1 µm，因此用热成像仪拍摄纳米结构的照片不会提供关于纳米结构内部 (或微观结构) 温度分布的太多信息。
可以通过不同的非接触方法测量局部温度
- 对单个量子点进行光谱学[1].
- 掺入结构中的激光染料的光谱
- 拉曼显微镜 (温度影响斯托克斯线和反斯托克斯线的幅度比、线宽和线的位置)
- 透射电子显微镜也可以通过各种技术提供温度信息[2]
- 尖端带有温度敏感电阻的特殊 AFM 探针可用于绘制表面温度图
- 红外近场显微镜[6]
- 共聚焦拉曼显微镜可以提供 3D 热图[3]
另请参见有关编辑此书籍以添加参考的说明纳米技术/关于#如何贡献.
- ↑ 罗乔，西奥多·乔治，保罗·阿瑟·塔克。“发射显微镜”。通过光、电子、X 射线或声波进行显微镜的介绍 (第 16 章，第 329 页) 1994 年。
- ↑ SEM 在成像和计量方面的未来
- ↑ 俄歇电子显微镜
- ↑ 什么是 EPR？
- ↑ 穆斯堡尔谱学导论：第一部分
- ↑ C. Feng, M. S. Ünlü, B. B. Goldberg, and W. D. Herzog, “Thermal Imaging by Infrared Near-field Microscopy,” Proceedings of IEEE Lasers and Electro-Optics Society 1996 Annual Meeting, Vol. 1, November 1996, pp. 249-250