纳米技术/扫描探针显微镜
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扫描探针显微镜 包括一系列方法，这些方法使用尖锐的探针以光栅模式扫描表面，并将与表面的相互作用记录在每个像素中，从而形成相互作用图像。 SPM 有多种方法和相互作用。 广义上讲，它可以分为三大类
- 在扫描隧道显微镜 (STM) 中，使用原子级尖锐的金属探针，并在探针悬停在表面附近时记录探针与表面之间的微弱隧道电流，此时电子可以在表面和探针之间移动。
- 在原子力显微镜 (AFM) 中，使用带有尖锐探针的悬臂梁 - 有点类似于老式唱片的针 - 在表面上扫描，可以记录形貌或表面柔软度。
- 在扫描近场光学显微镜 (SNOM) 中，使用带有小孔径的探针在表面上扫描，收集来自比所用光波长小得多的区域的光。
- 原子力显微镜 (AFM)
- 开尔文力显微镜
- 磁力显微镜
- 扫描电压显微镜
- 磁共振力显微镜
- 侧向力显微镜
维基链接
- 扫描探针显微镜实用指南 作者：Rebecca Howland 和 Lisa Benatar
- 自制原子分辨率显微镜
另请参阅关于如何添加参考文献的有关编辑此书籍的说明 纳米技术/关于#如何贡献。